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探傷機磁化電流選擇的規(guī)范
探傷機所需施加磁場的強弱取決于檢查所需靈敏度要求、制件幾何形狀與磁導率、缺陷類型與位置、磁化技術及磁懸液等因素。
一、確定所施加磁場強度的方法
a.由周、縱磁化規(guī)范給出的公式計算所需施加的磁化電流值及安匝數。
b.用標準試片估計法估計所施加的磁場強度的大小。
c.由毫特斯拉計測定所施加的磁場強度的大小。
二、周向磁化規(guī)范
a探傷機上所使用的直接通電法、中心導體法、偏置中心導體法周向磁化規(guī)范推薦如下:
ⅰ連續(xù)法 I=12-20D(檢驗高磁導率制件的開口性缺陷)
I=20-32D(檢驗高磁導率制件的夾雜物等非開口性缺陷及低磁導率制件的開口性缺陷)
I=30-40D(檢驗較低磁導率制件的夾雜物等非開口性缺陷)
ⅱ剩磁法: I=30-45D(檢驗矯頑力HC≥1kA/m,剩磁Br≥0.8T材料的開口性缺陷)
式中:Ｉ——磁化電流,Ａ
Ｄ——制件直徑,mm;對非圓柱形制件D=周長/π;偏置中心導體法制件直徑應為中心導體的直徑加兩倍制件壁厚
b.觸頭法周向磁化:
連續(xù)法:I=3.5-4.5L(板厚δ＜19mm)
I=4.0-5.0L(板厚δ≥19mm)
式中I——磁化電流,Ａ
Ｌ——兩觸頭間距,mm(推薦觸頭間距為150-200mm)
c. 探傷機上所使用環(huán)形件電纜法磁化規(guī)范
按2a計算,但要求用安匝數IN代替I(N為穿過制件空腔的軟電纜匝數)
三、縱向磁化規(guī)范(詳見有關探傷機檢驗標準)
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a.連續(xù)法:IN= ——
L/D
式中:IN——線圈安匝數,AT
L——制件長度,mm
D——制件直徑或橫截面上任意兩點間的最大距離,mm
b.剩磁法:
L/D＞2-5 磁場強度為24kA/m
L/D＞5-10 磁場強度為16kA/m
L/D＞10 磁場強度為12kA/m
圓盤制件磁場強度為36kA/m
c.制件外離線圈每端的有效磁化長度為200mm。
四、磁軛法磁化規(guī)范
采用標準試片檢查其探傷機磁場強度是否符合要求,也可采用毫特斯拉計測量正切磁場,要求≥2.4kA/m。
注：本磁化電流規(guī)范適用于支桿式探傷儀和床式探傷機設備，不適用于便攜式探傷儀